MAP-200 mORL/mIL 插損/回損測試解決方案

主要優(yōu)點

•      使供應效率增加4倍

•      所需空間為其他測試平臺的25%

•      可擴展至高成長性、高性能新應用，例如40/100 G數(shù)據(jù)中心市場

•      模塊化平臺可根據(jù)需要在預算允許范圍內(nèi)擴展

•      通過端口映射在15秒以內(nèi)驗證多芯光纖MPO組件的連通性及雙向性能

•      *支持快速增長的MPO和MTP多光纖連接器的測試

應用

•      對光連接器和光纜組件、結(jié)構(gòu)化布線解決方案和光分路器的插損/回損/長度進行測試

•      對多芯光纖組件（例如MPO）進行自動測試

•      單模和多模光纖測試解決方案

•      對大型多芯光纖組件的連通及雙向性能指標進行驗證

MAP-200 mORL/mIL 插損/回損測試解決方案

對于連接密集型中心局、數(shù)據(jù)中心和光分配網(wǎng)絡至關重要。在遠程通信、數(shù)據(jù)通信、無線回傳和FTTx之外，在海洋、航空電子和軍事應用繼續(xù)大幅增加的同時，新式超級計算應用也在不斷涌現(xiàn)。所有這些市場都是由更高的帶寬要求推動的。出于必要，市場上不斷推出新的連接器規(guī)格，這是由降低安裝成本、加快部署的需求推動的。

但這些連接點的質(zhì)量和光性能往往被忽視。插損和回損（IL和RL）不佳可能會對網(wǎng)絡性能造成深遠影響。性能不佳會直接影響接入和可靠性，甚至會阻礙技術升級之路。同時，經(jīng)濟因素也要求提供商繼續(xù)降低成本、加快供應并縮短上市時間。